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刘老师：15363050875
简介：
原子力显微镜（AFM）是利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。是一种可以用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器，具有纳米级高分辨的扫描探针显微镜。AFM的操作模式可大略分为以下三种：分成接触式（Contact mode ）、轻拍式(Tapping mode) 、非接触式(Non-contact Mode) 3种模式。
应用：
原子力显微镜观测导电和非导电样品的表面结构，其应用领域更为广阔，除物理、化学、生物等领域外，原子力显微镜在微电子学、微机械学、新型材料、医学等领域都有着广泛的应用。
可测试项目：
表面形貌、导电性能测试、表面电势测试、磁学性能测试、纳米力学测试、压电力测试。
样品类型：支持粉末、液体、块体、薄膜。
粉末样品：常规测试表面起伏≤5 μm；特殊测试≤1 μm，送样量≥20 mg；液体样品≥1 mL。尺寸超标请提前沟通。
粉末 / 液体样品：需备注制样信息（分散液、超声时长、配制浓度）。
薄膜 / 块体样品：长宽 0.5–3 cm，厚度 0.1–1 cm，表面粗糙度≤5 μm；**务必标注测试面**，样品固定牢靠，防止运输晃动、摩擦。
不导电样品（塑料、高分子等）：优先用吸附胶盒、离心管盛装；若用自封袋，需固定样品，防止运输摩擦起电，影响测试。
PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA：样品需制备在导电基底上（基底尺寸满足块体要求）；KPFM/C-AFM/PeakForce TUNA 要求样品为导电 / 半导体。
PFM、KPFM：对表面平整度要求高，粗糙度建议 10–200 nm；粉末样品测试难度大，下单前确认可接受测试风险。
一般来说AFM仪器测试的最大高度差是10um左右（有些仪器可能更小），如果样品表面起伏过大，就可能会超出仪器扫描范围，甚至会导致针尖容易磨钝或受污染，从而对图像的质量造成影响和耗材成本也会有所增加。
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